Kalitate-probaren elementu eta metodo nagusiakjosturarik gabeko hodiak:

1. Egiaztatu altzairuzko hodiaren tamaina eta forma

(1) Altzairuzko hodiaren hormaren lodiera ikuskatzea: mikrometroa, ultrasoinuen lodiera neurgailua, 8 puntu baino gutxiago bi muturretan eta erregistroa.
(2) Altzairuzko hodiaren kanpoko diametroa eta obalitatearen ikuskapena: kalibre-neurgailuak, vernier-kalibreak eta eraztun-neurgailuak puntu handiak eta txikiak neurtzeko.
(3) Altzairuzko hodien luzera ikuskatzea: altzairuzko zinta, eskuz, luzera neurketa automatikoa.
(4) Altzairuzko hodien tolestura-mailaren ikuskapena: erregela, maila-erregla (1m), palpagailu-neurgailua eta marra mehea metroko tolestura-maila eta luzera osoa tolestura-maila neurtzeko.

(5) Altzairuzko hodiaren amaierako aurpegiaren alaka-angelua eta ertza lausoa ikuskatzea: erregela karratua, atxikitzeko plaka.

2. Joturarik gabeko hodien gainazaleko kalitatearen ikuskapena

(1) Eskuzko ikuskapen bisuala: argi-baldintza onetan, estandarren arabera, erreferentziazko esperientzia markatuz, piztu altzairuzko hodia arretaz egiaztatzeko. Joturarik gabeko altzairuzko hodien barruko eta kanpoko gainazalek ez dute pitzadurarik, tolesdurarik, orbainrik, ijezketarik eta delaminaziorik izan.
(2) Saiakuntza ez-suntsitzaileak ikuskapena:

a. Ultrasoinu akatsen detekzioa UT: material uniformeekin hainbat materialen gainazaleko eta barneko pitzadura-akatsekiko sentikorra da.
b. Eddy korronte probak ET (indukzio elektromagnetikoa) puntu (zulo itxurako) akatsekiko sentikorra da batez ere.
c. Partikula magnetikoen MT eta Fluxuaren ihesaren probak: Proba magnetikoak egokiak dira material ferromagnetikoen gainazaleko eta gainazaleko hurbileko akatsak detektatzeko.
d. Ultrasoinu elektromagnetikoak detektatzeko akatsak: ez da akoplamendu bitartekorik behar, eta tenperatura altuko, abiadura handiko, altzairuzko hodien gainazaleko akatsak detektatzeko aplika daiteke.
e. Akats penetratzaileak hautematea: fluoreszentzia, kolorazioa, altzairuzko hodien gainazaleko akatsen detekzioa.

3. Konposizio kimikoaren analisia:analisi kimikoa, analisi instrumentala (CS infragorrien tresna, irakurketa zuzeneko espektrometroa, NO tresna, etab.).

(1) CS infragorrien tresna: ferroaleazioak, altzairugintzako lehengaiak eta altzairuko C eta S elementuak aztertzea.
(2) Zuzeneko irakurketa espektrometroa: C, Si, Mn, P, S, Cr, Mo, Ni, Cn, Al, W, V, Ti, B, Nb, As, Sn, Sb, Pb, Bi lagin solteetan.
(3) N-0 tresna: gas-edukiaren analisia N, O.

4. Altzairuaren kudeaketaren errendimenduaren ikuskapena

(1) Trakzio-proba: tentsioa eta deformazioa neurtu, materialaren erresistentzia (YS, TS) eta plastikotasun indizea (A, Z) zehaztu. Luzerako eta zeharkako lagin-hodiaren sekzioa, arku forma, lagin zirkularra (￠10, ￠12,5) diametro txikia, horma mehea, diametro handia, horma lodiaren kalibrazio distantzia. Oharra: apurtu ondoren laginaren luzapena GB/T 1760 laginaren tamainarekin lotuta dago
(2) Eragin-proba: CVN, koska C mota, V mota, lan J balioa J/cm2 lagin estandarra 10×10×55 (mm) lagin ez-estandar 5×10×55 (mm).
(3) Gogortasun proba: Brinell gogortasuna HB, Rockwell gogortasuna HRC, Vickers gogortasuna HV, etab.
(4) Proba hidraulikoa: probako presioa, presioa egonkortzeko denbora, p=2Sδ/D.

5. Joturarik gabeko altzairuzko hodien prozesuaren errendimenduaren ikuskapena

(1) Berotze-proba: lagin zirkularra C formako lagina (S/D>0,15) H=(1+2)S/(∝+S/D) L=40~100mm, deformazio-koefizientea luzera unitateko=0,07~0,08
(2) Eraztun tiraketa proba: L = 15mm, ez dago pitzadurarik
(3) Flaring eta kizkurtze proba: erdiko konoa 30°, 40°, 60° da
(4) Tolestura proba: berdintze proba ordezkatu dezake (diametro handiko hodietarako)

6. Joturarik gabeko tutuaren analisi metalografikoa
Handipen handiko proba (analisi mikroskopikoa), handitze baxuko proba (analisi makroskopikoa) dorre-formako ile-lerroaren proba, inklusio ez-metalikoen alearen tamaina aztertzeko, dentsitate baxuko ehuna eta akatsak bistaratzeko (adibidez, soltetasuna, bereizketa, larruazalpeko burbuilak, etab. ), eta ikuskatu ile-lerroen kopurua, luzera eta banaketa.

Handipen baxuko egitura (makro): ikusmen ikus daitezkeen orban zuriak, inklusioak, larruazalpeko burbuilak, larruazalaren biraketa eta delaminazioa ez dira onartzen josturarik gabeko altzairuzko hodien azido lixibiatze-sekzioko handitze baxuko ikuskapenean.

Potentzia handiko antolaketa (mikroskopikoa): Potentzia handiko mikroskopio elektronikoarekin aztertu. Dorre-lerroaren proba: probatu ile-lerroen kopurua, luzera eta banaketa.

Fabrikan sartzen den altzairurik gabeko altzairuzko hodien lote bakoitzarekin batera, altzairurik gabeko altzairuzko hodien lotearen edukiaren osotasuna egiaztatzen duen kalitate-ziurtagiri bat aurkeztuko da.